一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610761710.5
IPC分类号：G01R33/032
申请日期：
2016-08-31
申请人：
成都市和平科技有限责任公司

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著录项信息

专利名称	一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置
申请号	CN201610761710.5	申请日期	2016-08-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-11-16	公开/公告号	CN106125017A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/032 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕 G01R33/032 采用磁—光设备，例如法拉第的〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;3;2查看分类表>
申请人	成都市和平科技有限责任公司	申请人地址	四川省成都市武侯区一环路西一段高升桥路2号2-2栋10层D号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都市和平科技有限责任公司	当前权利人	成都市和平科技有限责任公司
发明人	汪诚甫
代理机构	成都九鼎天元知识产权代理有限公司	代理人	韩雪

摘要

本发明公开了一种基于光纤光栅的磁场强度测量装置，其特征在于：包括依次连接的光源模块、隔离器、耦合器、光电探测模块和信号处理模块，以及与耦合器连接的磁感应模块；所述磁感应模块，是由光纤、以等间距均匀布置在光纤上的光栅、粘贴于光栅上的磁致伸缩薄膜、装充在磁致伸缩薄膜所封闭的光栅间隔中的光纤匹配液，以及贴在磁致伸缩薄膜外表面的保护层所组成。本发明具有不受电磁干扰、测量精度高、结构简单、成本较低、使用方便等突出优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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