一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510070046.5
IPC分类号：G01N21/47
申请日期：
2015-02-10
申请人：
华南理工大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法
申请号	CN201510070046.5	申请日期	2015-02-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-06-03	公开/公告号	CN104677859A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/47 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/47 散射，即漫反射（G01N 21/25，G01N 21/41优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;7查看分类表>
申请人	华南理工大学	申请人地址	广东省广州市天河区五山路381号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南理工大学	当前权利人	华南理工大学
发明人	陈家晓;李宗涛;汤勇;李家声;吴宇旋;王卉玉;邓文君
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	罗观祥

摘要

本发明公开了一种消除环境光干扰的BSDF测量系统及测量方法，包括机架平台、测量平台、摇臂探头机构、控制模块、数据采集模块和PC机；测量平台包括旋转底座、设置在旋转底座上的支撑架、承重台、环形样品台、激光器等；测量时激光照射被测样品表面，经反射或透射后，通过摇臂的旋转以及样品台的自转，对半球面内各测量点的光线散射情况进行测量；测量时由电动快门对激光光路进行通断控制，每个测量点都分别测量有激光照射和无激光照射(即只有环境光)时的数据，把两种数据相减，便可去除环境光的成分，得到准确的BSDF测量数据。本系统可自动消除环境光的干扰，测量无需在暗环境中进行；广泛适用于各种材料属性的被测样品。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供