光照强度检测系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010510000.8
IPC分类号：G01J1/00;G01M11/02
申请日期：
2010-10-15
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	光照强度检测系统及方法
申请号	CN201010510000.8	申请日期	2010-10-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-09	公开/公告号	CN102445269A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	张旨光;薛晓光;袁忠奎;蒋理
代理机构	深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司	代理人	谢志为

摘要

一种光照强度检测系统及方法，该方法包括：预设定各灰度值在颜色条中所对应的颜色；读取存储装置中的影像图片；当所读取的影像图片是灰度图片时，读取该灰度图片的像素点总数与各像素点所对应的灰度值；记录各灰度值所对应的像素点的个数，并绘制各灰度值与各灰度值对应的像素点个数的关系曲线图；重新绘制该灰度图片，并根据该灰度图片上各像素点的灰度值在颜色条中所对应的颜色，在对应的像素点上使用对应的颜色进行着色；显示所述关系曲线图以及该重新着色的灰度图片。利用本发明能够为光源检测提供可靠的光源光照强度的数据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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