一种测量数字存储示波器存储深度的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810044247.8
IPC分类号：G01R31/00;G01R35/00;G01R13/02
申请日期：
2008-04-18
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种测量数字存储示波器存储深度的方法
申请号	CN200810044247.8	申请日期	2008-04-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-09-10	公开/公告号	CN101261300
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;5;/;0;0;;;G;0;1;R;1;3;/;0;2查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新西区西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	王厚军;田书林;叶芃;隋良杰;滕志超
代理机构	北京市路盛律师事务所	代理人	温利平

摘要

本发明公开了一种测量数字存储示波器存储深度的方法，包括步骤：a、将被测数字存储示波器置于实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位，触发方式设置为单次触发；b、输入一测试信号给被测数字存储示波器，单次触发采集结束后，根据屏幕上显示的时基和所有波形所占格数，依据公式：存储深度＝时基×波形所占格数×最高采样率，得到被测数字存储示波器的存储深度。本发明通过实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位设置以及单次触发方式的设置，获得一段连续的波形记录，根据波形记录的时间长度、最高采样率得到存储深度，这样，用户就可以根据获取的数字存储示波器存储深度这一重要的技术指标，选择合适的数字存储示波器用于信号的测量。

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