一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910390994.5
IPC分类号：G01N23/2055
申请日期：
2019-05-10
申请人：
北京科技大学

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著录项信息

专利名称	一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法
申请号	CN201910390994.5	申请日期	2019-05-10
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-07-26	公开/公告号	CN110057850A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/2055	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;5;5查看分类表>
申请人	北京科技大学	申请人地址	北京市海淀区学院路30号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京科技大学	当前权利人	北京科技大学
发明人	张津;连勇;徐伟生;焦进超;杨振波
代理机构	北京市广友专利事务所有限责任公司	代理人	张仲波

摘要

本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。

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