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SOT封装类芯片引脚三维尺寸缺陷并行检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410391570.8
  • IPC分类号:H01L21/66
  • 申请日期:
    2014-08-11
  • 申请人:
    东南大学
著录项信息
专利名称SOT封装类芯片引脚三维尺寸缺陷并行检测方法
申请号CN201410391570.8申请日期2014-08-11
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-11-19公开/公告号CN104157588A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人东南大学申请人地址
江苏省南京市玄武区四牌楼2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东南大学当前权利人东南大学
发明人张志胜;戴敏;张俊卿;卜德帅
代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙)代理人李晓
摘要
本发明提供了一种SOT封装类芯片引脚三维尺寸缺陷并行检测方法。该方法将单个SOT封装芯片的检测流程划分为7个过程,并分别封装在7个线程中。流程线程函数按照检测流程包括串口检测线程、图像采集线程、图像检测线程、结果分析线程、同步编码线程、界面刷新线程和数据库备份线程。多个SOT封装芯片的检测流程并行运行。其中图像采集线程、图像检测线程、结果分析线程各包含两个模块平面图像检测模块和引脚高度检测模块。该方法既可以实现多个芯片的并行检测,又可以实现平面引脚尺寸检测与引脚高度的三维并行检测,令检测速度有明显的提高。

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