一种瑞利-高斯衰落信道模型的验证方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110043910.8
IPC分类号：H04B17/391
申请日期：
2021-01-13
申请人：
合肥工业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种瑞利-高斯衰落信道模型的验证方法
申请号	CN202110043910.8	申请日期	2021-01-13
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-28	公开/公告号	CN112865896A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B17/391 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B17/02 （转入H04B17/40） H04B17/30 传输信道的〔2015.01〕 H04B17/391 传输信道建模〔2015.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;7;/;3;9;1查看分类表>
申请人	合肥工业大学	申请人地址	安徽省合肥市包河区屯溪路193号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥工业大学	当前权利人	合肥工业大学
发明人	袁莉芬;束海星;何怡刚;李兵;佐磊;尹柏强;刘韬;张鹤鸣
代理机构	合肥市上嘉专利代理事务所（普通合伙）	代理人	郭华俊

摘要

本发明涉及一种瑞利‑高斯衰落信道模型的验证方法，包括：建立瑞利‑高斯衰落信道模型仿真平台，并计算信道模型的时域衰落、幅值包络、相位和功率谱；验证信道模型的时域衰落特征是否满足瑞利‑高斯信道时域特征；验证信道模型的一阶统计特征是否满足瑞利‑高斯信道一阶统计特征；验证信道模型的功率谱是否满足瑞利‑高斯信道功率谱；判定所建信道模型是否为瑞利‑高斯信道模型。本发明可以通过定量分析信道模型的时域衰落特征和一阶统计特征、观察信道模型多普勒功率谱实际谱图的形状和带宽，对瑞利‑高斯衰落信道模型进行验证。

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