创建识别材料的函数曲线的方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201110392171.X
IPC分类号：G01N23/02
申请日期：
2008-05-09
申请人：
清华大学;同方威视技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	创建识别材料的函数曲线的方法和装置
申请号	CN201110392171.X	申请日期	2008-05-09
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-06-27	公开/公告号	CN102519988A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人	清华大学;同方威视技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华园1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司	当前权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司
发明人	王学武;钟华强;李清华;王小兵
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王波波

摘要

公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置，该方法包括步骤：使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值；匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值；按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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