一种保护功率放大器的辐射敏感度试验方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810119630.5
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2008-09-04
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种保护功率放大器的辐射敏感度试验方法
申请号	CN200810119630.5	申请日期	2008-09-04
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-01-14	公开/公告号	CN101344557
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	戴飞;谢树果;张金硕;苏东林;孔蓉;宋振飞
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	周长琪

摘要

本发明提出了一种保护功率放大器的辐射敏感度试验方法，本方法通过功率计最小灵敏度的限制，计算出信号源需给出的最小输入功率，确保了在最小输入功率以上的功率值输入时，驻波比在较宽频段范围内是稳定的。从而确保了驻波比保护功率放大器的有效性；由最大允许反射功率确定信号源最大输入功率，以及按标准规定的场强值，从而确定EUT被试品处的施加的场强值，使在此频段范围内确保不会因为反射功率过大而损坏功率放大器，有效地保障了辐射敏感度试验的顺利进行和功率放大器的安全。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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