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放大倍率可变的工业X射线底片数字化细节观察仪

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910249805.9
  • IPC分类号:G02B27/02
  • 申请日期:
    2009-11-27
  • 申请人:
    北京工业大学
著录项信息
专利名称放大倍率可变的工业X射线底片数字化细节观察仪
申请号CN200910249805.9申请日期2009-11-27
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2010-06-02公开/公告号CN101718912A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B27/02IPC分类号G;0;2;B;2;7;/;0;2查看分类表>
申请人北京工业大学申请人地址
北京市朝阳区平乐园100号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京工业大学当前权利人北京工业大学
发明人闫志鸿;刘阳;宋永伦
代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司代理人吴荫芳
摘要
本发明涉及放大倍率可变的工业X射线底片数字化细节观察仪,用于实现对工业焊缝检测X射线底片的数字化处理。本装置包括光源(1)、三可变镜头(3)、与镜头(3)相连的数字摄像头(6)、与数字摄像头(6)连接的计算机(10),还包括聚光罩(2)、移动机构、对焦机构、步进电机控制器(9);并且,所述计算机(10)含有清晰度判断及自动调焦程序。采用均匀LED强光透射底片提供照明,并且使用三可变微距镜头和工业用面阵数字摄像头对底片采像,采集图像实时传送至计算机。操作者可以通过计算机发出控制指令,驱动运动系统,实现对底片采像的缩放,以观察底片的局部细节。在缩放过程中,计算机通过清晰度判断和自动对焦算法,驱动对焦机构,实现实时自动对焦,保证缩放过程中的图像不失真。

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