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半导体装置及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN96190349.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    1996-04-17
  • 申请人:
    精工爱普生株式会社
著录项信息
专利名称半导体装置及其制造方法
申请号CN96190349.X申请日期1996-04-17
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日1997-05-28公开/公告号CN1150866
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人精工爱普生株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人精工爱普生株式会社当前权利人精工爱普生株式会社
发明人东野彻
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人姜郛厚;叶恺东
摘要
在将薄膜多晶硅,既作为布线、也作为TFT(Thin FilmTransistor)构成要素使用的微细半导体装置中,当反向结二极管介于由多晶硅构成的电流通路之间时,不需增加特别工序,就可使其反向二极管的漏电流增大,并确保必要的电流供给能力。漏电流的增大,或者是通过将由多晶硅构成的二极管的PN结面的浓度梯度做成很陡,或者是使结面附近非结晶化而实现的。例如,作为大规模的SRAM的存储单元,作为触发电路的负载,而使用由薄膜多晶硅构成的TFT型单元时,可经由反向二极管,向许多存储单元,供给足够的电流。因此,可以实现超高集成度的存储器IC。

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