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半导体设备安全检测系统和半导体设备安全检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110409327.0
  • IPC分类号:G05B23/02
  • 申请日期:
    2011-12-09
  • 申请人:
    北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
著录项信息
专利名称半导体设备安全检测系统和半导体设备安全检测方法
申请号CN201110409327.0申请日期2011-12-09
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2013-06-19公开/公告号CN103163874A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05B23/02IPC分类号G;0;5;B;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司申请人地址
北京市北京经济技术开发区文昌大道8号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司当前权利人北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
发明人李福增
代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司代理人张天舒;陈源
摘要
本发明公开了一种半导体设备安全检测系统和半导体设备安全检测方法。该半导体设备安全检测系统包括:工控机、执行单元工艺设备和计时器,其中:工控机用于按照设定时间向所述执行单元发送检测协议数据,执行单元用于查询在指定时间内是否接收到工控机发送的检测协议数据,若查询出在指定时间内未接收到工控机发送的检测协议数据,对相应工艺设备执行安全恢复操作,计时器用于对设定时间和指定时间进行计时。执行单元若查询出在指定时间内未接收到工控机发送的检测协议数据,则检测出工控机运行异常,因此本发明的技术方案使执行单元能够检测出工控机是否运行正常。

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