测试基片上电路

发明专利无效专利

申请号：
CN02820892.7
IPC分类号：G01R31/316;G01R31/28;G01R1/073
申请日期：
2002-10-09
申请人：
伊来克格拉斯有限公司

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著录项信息

专利名称	测试基片上电路
申请号	CN02820892.7	申请日期	2002-10-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-02-02	公开/公告号	CN1575421
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/316 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/316 模拟电路的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;6;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	伊来克格拉斯有限公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	伊来克格拉斯有限公司	当前权利人	伊来克格拉斯有限公司
发明人	T·J·博伊尔;W·E·里克特;L·T·约翰逊;L·A·汤姆
代理机构	北京纪凯知识产权代理有限公司	代理人	赵蓉民

摘要

本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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