一种空间调制静态干涉光谱成像仪干涉图光学拼接方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410366532.7
IPC分类号：G01J3/45
申请日期：
2014-07-29
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	一种空间调制静态干涉光谱成像仪干涉图光学拼接方法
申请号	CN201410366532.7	申请日期	2014-07-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-11-26	公开/公告号	CN104165694A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/45 干涉光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;5查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	刘强;李思远;陈小来;王爽;李芸;李然
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	杨引雪

摘要

本发明涉及一种空间调制静态干涉光谱成像仪干涉图光学拼接方法，当探测器光谱维行数不能满足系统设计对干涉图采样点数要求时，可通过在像面前设置反射镜面用以在光谱方向分割像面，用N个探测器(N≥2)分别采集转换干涉图；再利用干涉图在零光程差位置两侧对称分布的特性，将多个探测器输出图像拼接后获得满足数据处理要求的干涉图像。本发明解决了光电探测器面阵规格不能满足高光谱分辨率要求的技术问题。

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