复合式激光扫描测量头

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200420120209.3
IPC分类号：G01B11/03
申请日期：
2004-12-20
申请人：
深圳市鑫磊鐳瑞精密仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	复合式激光扫描测量头
申请号	CN200420120209.3	申请日期	2004-12-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/03 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/03 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;3查看分类表>
申请人	深圳市鑫磊鐳瑞精密仪器有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区松岗街道办红星社区港联蚝涌工业区3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市思瑞精密机器有限公司	当前权利人	深圳市思瑞精密机器有限公司
发明人	费斌;佘刚;段宣治;张磊;张超;杨洪涛
代理机构	北京润平知识产权代理有限公司	代理人	周建秋

摘要

本实用新型公开一种复合式激光扫描测量头，包括扫描测量头外壳、外壳的底板上安装有成交角的两个光学采集镜头，光学采集镜头之间设有半导体激光发生器，在两个光学采集镜头之间设置有二维投影头；使用时，本实用新型复合式激光扫描测量头采用三维激光扫描与二维投影相结合的方式，当激光扫描测量头在扫描工件上细小产品或尖锐的轮廓时，通过二维投影头采集的数据修正因激光线发散而造成的杂点干扰，从而提高被测量三维数据的准确度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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