一种边界扫描实验系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201010131889.9
IPC分类号：G01R31/28;G09B23/18
申请日期：
2010-03-23
申请人：
徐磊;陈圣俭;王月芳

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种边界扫描实验系统
申请号	CN201010131889.9	申请日期	2010-03-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-09-01	公开/公告号	CN101819250A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;9;B;2;3;/;1;8查看分类表>
申请人	徐磊;陈圣俭;王月芳	申请人地址	北京市长辛店杜家坎21#研78队变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	徐磊,陈圣俭,王月芳	当前权利人	徐磊,陈圣俭,王月芳
发明人	徐磊;陈圣俭;王月芳
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	任默闻

摘要

本发明提供一种边界扫描实验方法、系统及目标装置，该实验目标装置包括：TAP输入端，用于接收外部输入的TAP测试总线信号；BS芯片插槽，与TAP输入端相连接，用于承载BS芯片；被测芯片插槽，通过跳线开关与BS芯片插槽相连接，用于承载被测芯片；TAP输出端，与BS芯片插槽相连接，用于向外部的TAP反馈测试信号。本发明为边界扫描技术的学习者提供了一个学习和实训的实验平台，能够提供基于所有边界扫描测试标准的，多测试模式的实验。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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