一种电路板级自检测系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200810045295.9
IPC分类号：G01R31/28;G08C17/00;G08C19/00
申请日期：
2008-01-29
申请人：
电子科技大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种电路板级自检测系统
申请号	CN200810045295.9	申请日期	2008-01-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-07-23	公开/公告号	CN101226223
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;8;C;1;7;/;0;0;;;G;0;8;C;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市建设北路二段4号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	谢永乐;周启忠;毕东杰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明属于电子技术领域，涉及电路故障检测及诊断，尤其是集成电路的测试及故障诊断。本发明包括电路检测子系统和被测电路，二者之间通过测试总线相连；其中被测电路具有按可测性设计标准提供的测试通道，电路检测子系统和被测电路集成于同一电路板上。电路检测子系统可由“微处理”器构成或由“微处理器+协控器”构成，电路检测子系统还可增加通信模块以提供通信功能或增加存储器以提供扩展的存储空间。本发明实质是在被测电路板上“嵌入”电路检测系统，实现电路板级的自动测试，为高密度电路板的维护保障提供了一种高效的技术途径，特别是针对野外、远航等不易现场获得外部测试设备的环境中应用的电路板的测试，具有突出的实用性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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