半导体设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201210161283.9
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2012-05-14
申请人：
富士通半导体股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体设备
申请号	CN201210161283.9	申请日期	2012-05-14
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-19	公开/公告号	CN102830339A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	富士通半导体股份有限公司	申请人地址	日本神奈川县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	富士通半导体股份有限公司	当前权利人	富士通半导体股份有限公司
发明人	三浦大祐;小山田信次
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	宋鹤

摘要

本发明公开了半导体设备。一种半导体设备包括：具有多个触发器的用户电路；以及连接路径，该连接路径在测试模式中将多个触发器相连并且形成扫描链，其中该连接路径具有逻辑运算电路或反相值连接路径，逻辑运算电路对多个触发器中的任意触发器的非反相输出值执行逻辑运算并输出结果，反相值连接路径向后一级触发器输出多个触发器中的任意触发器的反相输出值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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