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PIN针回弹检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710583802.3
  • IPC分类号:G01N3/10
  • 申请日期:
    2017-07-18
  • 申请人:
    泰德兴精密电子(昆山)有限公司
著录项信息
专利名称PIN针回弹检测方法
申请号CN201710583802.3申请日期2017-07-18
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-10-17公开/公告号CN107255593A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N3/10IPC分类号G;0;1;N;3;/;1;0查看分类表>
申请人泰德兴精密电子(昆山)有限公司申请人地址
江苏省苏州市昆山市锦溪镇锦东路455号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人泰德兴精密电子(昆山)有限公司当前权利人泰德兴精密电子(昆山)有限公司
发明人范少辉;邓如翠
代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)代理人汤东凤
摘要
本发明PIN针回弹检测方法,步骤为:下压块带动压和顶针向下压持PIN针,直至一次下压限位装置抵持产品,此时PIN针处于回弹形成压制极限;下压气缸复位;二次下压限位装置驱动,并到达与下压块对应处;下压气缸驱动,带动下压块及其下压块上设置的压和顶针下降,直至到达二次下压限位装置处,此时压和顶针压持PIN针;上顶测试装置驱动,向上顶持PIN针;对下压测试装置和上顶测试装置的通电导线通电,此时能够正常回弹的PIN针与通电导线处形成连通电路,反之为不能正常回弹。本发明利用PIN针可通电原理进行PIN针的回弹测试,测试效率高,结果准确,提高产品制备效率同时减少对人工的占用。

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