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二维度双差值感测资讯分析的方法与装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410172150.0
  • IPC分类号:G06F3/041;G06F3/044
  • 申请日期:
    2010-10-08
  • 申请人:
    禾瑞亚科技股份有限公司
著录项信息
专利名称二维度双差值感测资讯分析的方法与装置
申请号CN201410172150.0申请日期2010-10-08
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-02-04公开/公告号CN104331183A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/041IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;4;1;;;G;0;6;F;3;/;0;4;4查看分类表>
申请人禾瑞亚科技股份有限公司申请人地址
中国台湾台北市内湖区瑞光路302号11楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人禾瑞亚科技股份有限公司当前权利人禾瑞亚科技股份有限公司
发明人张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆
代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司代理人寿宁
摘要
本发明是有关于一种二维度双差值感测资讯分析的方法与装置。其中的方法包括,将二维度双差值感测资讯进行一分析,从二维度双差值感测资讯分析出触碰相关感测资讯,其中触碰相关感测资讯可以是包括:具有内低外高的值的触碰相关感测资讯与具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。其中的装置包括一控制器与一主机之一,执行一分析,对一第一二维度双差值感测资讯进行一分析,以分析出该第一二维度双差值感测资讯中的每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯。本发明提供的技术方案能够有效降低噪点干扰,非常适于实用。

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