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肖特基二极管及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210174594.9
  • IPC分类号:H01L29/423;H01L29/872;H01L21/28;H01L21/329
  • 申请日期:
    2012-05-30
  • 申请人:
    中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
著录项信息
专利名称肖特基二极管及其制造方法
申请号CN201210174594.9申请日期2012-05-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-12-18公开/公告号CN103456773A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/423IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;4;2;3;;;H;0;1;L;2;9;/;8;7;2;;;H;0;1;L;2;1;/;2;8;;;H;0;1;L;2;1;/;3;2;9查看分类表>
申请人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司当前权利人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
发明人蒲贤勇;程勇;杨广立;马千成
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人骆苏华
摘要
一种肖特基二极管及其制造方法,所述肖特基二极管包括:半导体衬底;位于半导体衬底中的多个沟槽结构,用于将半导体衬底分隔为阳极区和阴极区;位于阳极区半导体衬底上、围绕所述阳极区的栅极结构环,所述栅极结构环沿环向的每一位置处均与所述阳极区半导体衬底有接触区域;位于栅极结构环露出的阳极区半导体衬底上、栅极结构环上、沟槽结构露出的阴极区半导体衬底上的金属层,其中,所述栅极结构环露出的阳极区半导体衬底和栅极结构环上的金属层电连接在一起,作为阳极,沟槽结构露出的阴极区半导体衬底上的金属层电连接在一起,作为阴极。本发明还提供一种制造所述肖特基二极管的方法。本发明可以提高肖特基二极管的反向击穿电压。

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