MS/MS型质谱分析装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200980156241.2
IPC分类号：H01J49/42;G01N27/62
申请日期：
2009-02-05
申请人：
株式会社岛津制作所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	MS/MS型质谱分析装置
申请号	CN200980156241.2	申请日期	2009-02-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-01-04	公开/公告号	CN102308361A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/42 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/26 质谱仪或质量分离管〔3〕 H01J49/34 动态分光仪〔3〕 H01J49/42 轨迹稳定型分光仪，如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;4;2;;;G;0;1;N;2;7;/;6;2查看分类表>
申请人	株式会社岛津制作所	申请人地址	日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社岛津制作所	当前权利人	株式会社岛津制作所
发明人	奥村大辅
代理机构	上海市华诚律师事务所	代理人	肖华

摘要

向碰撞室(14)内导入CID气体，在为了第3段四极杆(17)不进行实质上的质量分离而设定施加电压的状态下，第1段四极杆(13)一边进行规定范围的质量扫描一边实行质量电荷比为已知的标准试料的质量分析。由第1段四极杆(13)所挑选的前体离子得来的各种产物离子不发生分离地到达检测器(18)并被检测，因此，数据处理部(25)能够基于检测数据，取得反映了碰撞室(14)中的时间延迟的、向第1段四极杆(13)的施加电压和得到的离子的质量电荷比之间的关系。该关系被存储于校正数据存储部(26)中，在进行中性丢失扫描测量等时被利用，能够消除由碰撞室(14)中的时间延迟引起的质量偏离，在质量范围内以高灵敏度检测产物离子。另外，能够制成具有高精度的质量轴的质谱。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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