一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备

实用新型有效专利

申请号：
CN201822132338.9
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2018-12-19
申请人：
杭州可明电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备
申请号	CN201822132338.9	申请日期	2018-12-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G01R31/00查看分类表>
申请人	杭州可明电子科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市余杭区闲林街道闲兴路21*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州可明电子科技有限公司	当前权利人	杭州可明电子科技有限公司
发明人	高长明
代理机构	浙江永鼎律师事务所	代理人	陆永强;张建

摘要

本实用新型提供了一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备，包括待测模块和连接于所述待测模块的MCU模块，所述待测模块的输入端通过电磁继电器和控制开关连接于供电电源，所述电磁继电器连接于所述MCU模块，所述待测模块的输出端连接有负载模块，所述待测模块包括多个供充电控制模块插接的工装位，多个工装位相互串联连接且分别连接于所述MCU模块，且电磁继电器控制端连接有第一开关电路，所述第一开关电路包括第一开关管，所述第一开关管的控制端连接于所述MCU模块。本实用新型将充电控制模块进行串联老化，大大加快老化进度，同时缩减工人频繁操作的时间，提高工作效率与生产效率。

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发明授权

一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备

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