补偿分析物分析中的系统延迟和/或外源照明

发明专利有效专利

申请号：
CN200880103928.5
IPC分类号：G01N21/00
申请日期：
2008-08-21
申请人：
RIC投资有限责任公司

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著录项信息

专利名称	补偿分析物分析中的系统延迟和/或外源照明
申请号	CN200880103928.5	申请日期	2008-08-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-07-21	公开/公告号	CN101784879A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先）	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	RIC投资有限责任公司	申请人地址	美国特拉华变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	RIC投资有限责任公司	当前权利人	RIC投资有限责任公司
发明人	J·D·马丁;J·R·德尔法瑞洛
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	王英;刘炳胜

摘要

一种传感器确定与一团流体中的气态分析物相关的信息。该传感器包括发射体、可发光介质、辐射传感器和处理器。发射体发射具有振荡强度的电磁辐射。可发光介质与一团流体连通并响应于所接收的电磁辐射发射发光辐射。辐射传感器接收发光辐射，并基于所接收的发光辐射的强度产生输出信号。处理器用于在电磁辐射强度振荡上两个或更多预定周期点对所述辐射传感器产生的输出信号抽样，以从样本中确定与所述发射体发射的电磁辐射强度的振荡和所述辐射传感器接收的发光辐射强度的振荡之间的相位差相关的信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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