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一种大深径比的半球微坑阵列的加工工艺

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910373738.5
  • IPC分类号:B23H3/00;B23H11/00
  • 申请日期:
    2019-05-07
  • 申请人:
    大连理工大学
著录项信息
专利名称一种大深径比的半球微坑阵列的加工工艺
申请号CN201910373738.5申请日期2019-05-07
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-07-26公开/公告号CN110052677A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B23H3/00IPC分类号B;2;3;H;3;/;0;0;;;B;2;3;H;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人大连理工大学申请人地址
辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人大连理工大学当前权利人大连理工大学
发明人宋金龙;黄柳;刘新;王续跃;孙玉文
代理机构大连理工大学专利中心代理人温福雪;侯明远
摘要
本发明属于微细加工技术领域,提供一种大深径比的半球微坑阵列的加工工艺,步骤如下:对金属基板预处理;掩膜制备:依次将光致抗蚀干膜HT200和具有镂空图案的掩膜板贴于预处理后的金属板上,然后于波长360nm的紫外光下照射以引发光聚合反应,再在质量分数5%的Na2CO3溶液中显影,从而复制图案到干膜上;电解加工:分别将覆有干膜的金属板和同尺寸的铜板作为阳极和阴极安装在侧冲夹具上,并加一定的脉冲电压进行加工,然后将金属工件取出并置于质量分数5%的NaOH溶液中去膜,经清洗、吹干后获得大深径比的半球微坑阵列。本发明方法具有易操作、低成本、高效率、所得半球微坑阵列的深径比大且进一步减小摩擦磨损等优点。

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