八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110433699.7
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2011-12-21
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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专利名称	八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法
申请号	CN201110433699.7	申请日期	2011-12-21
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-06-27	公开/公告号	CN102519712A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号52幢6层601-10室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京国望光学科技有限公司	当前权利人	北京国望光学科技有限公司
发明人	方瑞芳;曾爱军;刘龙海;朱玲琳;袁乔;黄惠杰
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种八分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，装置包括准直光源，特点在于其构成是：沿所述的准直光源发出的光束前进方向上，依次是偏振分光镜、四分之一波片、八分之一波片的插口、反射镜，在所述的偏振分光镜的反射光束方向上放置第一光电探测器，在垂直于入射光并与所述的第一光电探测器相反的方向放置第二光电探测器，所述的第一光电探测器和第二光电探测器的输出端接信号处理单元的输入端，所述的四分之一波片的快轴与所述的偏振分光镜的透光轴所成的角度为45°。实验表明，本发明具有结构简单、测量速度快和测量精度高的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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