系统芯片的故障诊断设备及方法以及系统芯片

发明专利无效专利

申请号：
CN200610151650.1
IPC分类号：G01R31/00;G01R31/28;G01R31/3187
申请日期：
2006-09-11
申请人：
三星电子株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	系统芯片的故障诊断设备及方法以及系统芯片
申请号	CN200610151650.1	申请日期	2006-09-11
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2007-03-14	公开/公告号	CN1928573
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;7查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	裴点汉
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	韩明星;李云霞

摘要

一种可立即或远程诊断安装在产品上的系统芯片(SoC)中的故障的故障诊断设备及方法，以及一种可诊断其中的故障的系统芯片。所述用于SoC的故障诊断设备包括：指令输入单元，向SoC输入故障诊断请求指令；和输出单元，从SoC接收诊断结果并输出诊断结果，所述SoC接收故障诊断请求指令、诊断其自身的故障并向输出单元输出诊断结果，从而立即或远程诊断安装在产品上的SoC中的故障。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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