监控装置老化试验固定装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821726296.5
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04
申请日期：
2018-10-24
申请人：
上海华星电器有限公司

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著录项信息

专利名称	监控装置老化试验固定装置
申请号	CN201821726296.5	申请日期	2018-10-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	上海华星电器有限公司	申请人地址	上海市奉贤区沪杭公路3111号第1幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华星电器有限公司	当前权利人	上海华星电器有限公司
发明人	陈欢均
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种监控装置老化试验固定装置，属于老化试验装置技术领域。包括底板、固定在所述底板上的支撑架以及与所述支撑架固定的正导电柱、与所述支撑架固定的负导电柱；所述底板上固定有一绝缘底座，所述绝缘底座上固定有与所述正导电柱通过一导线连接的正极接线板、与所述负导电柱通过另一导线连接的负极接线板，所述正导电柱、所述负导电柱均通过绝缘连接板与所述支撑架固定，正导电柱、负导电柱上沿其长度方向通过导线连接有多个相互配合的插头，所述支撑架上还固定有多个挂钩。在一次老化试验中能够固定多个监控装置并为其供电，提高试验效率，且在一次试验中能够获取多个老化数据，提高测试精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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