vcsel测试设备

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著录项信息

专利名称	vcsel测试设备
申请号	CN201930065818.5	申请日期	2019-02-16
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	LOC分类号	10-05 查看分类表>
申请人	深圳市矽电半导体设备有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	矽电半导体设备（深圳）股份有限公司	当前权利人	矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
发明人	刘振辉;叶伟杰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

1．本外观设计产品的名称：vcsel测试设备。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试vcsel芯片。3．本外观设计产品的设计要点：外形。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：主视图。5．省略视图：仰视图，不可见。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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