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内窥式X射线发光断层成像装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201280066407.3
  • IPC分类号:A61B6/03
  • 申请日期:
    2012-03-16
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称内窥式X射线发光断层成像装置及方法
申请号CN201280066407.3申请日期2012-03-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-11-26公开/公告号CN104168830A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B6/03IPC分类号A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市太白南路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人梁继民;陈雪利;屈晓超;朱守平;陈多芳;赵恒;田捷
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人杨静
摘要
一种内窥式X射线发光断层成像装置,包括:激发源单元(1),用于从外部激发源激发受检对象内部的探针;信号采集单元(2),用于采集受检对象的X射线图像和所述探针受激发后发出的近红外光信号图像;计算单元(4),用于对采集的X射线图像和红外光信号图像进行预处理,对预处理后的X射线图像进行稀疏重建,以获取受检对象的结构信息和信号采集单元中的内窥探头在受检对象内部的位置信息,以及利用获取的结构信息和位置信息,对预处理后的近红外光信号图像进行光学三维重建,获取受检对象内部的靶向目标的位置信息和分布信息。

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