改进的天线系统测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201980053833.5
IPC分类号：G01R29/08
申请日期：
2019-06-17
申请人：
蓝博测试有限公司

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著录项信息

专利名称	改进的天线系统测量装置
申请号	CN201980053833.5	申请日期	2019-06-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-26	公开/公告号	CN112567254A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	蓝博测试有限公司	申请人地址	瑞典哥德堡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	蓝博测试有限公司	当前权利人	蓝博测试有限公司
发明人	罗伯特·雷哈马尔;约翰·夸恩斯特兰德;克拉斯·阿维德松
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	高岩;卫三娟

摘要

一种测量装置，用于测量至少一个天线系统(110)在第一频带和第二频带下的性能。该测量装置包括：外室(120)，具有被配置成包围天线系统(110)的向内射频反射壁(121)；可部署在外室(120)内部的内室(140)，该内室(140)具有被配置成包围天线系统(110)的射频吸收壁(141)；第一测试天线装置(130)，其被布置在外室(120)内部，并且被配置成用于在第一频带下的测量操作(131)；以及第二测试天线装置(150)，其被布置在内室(140)内部并且被配置成用于在第二频带下的测量操作(151)，从而使得能够通过第一测试天线装置(130)测量天线系统(110)在反射射频环境中的性能，并且通过第二测试天线装置(150)测量在基本消声的射频环境中的性能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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