X-射线检测器和X-射线CT设备

发明专利有效专利

申请号：
CN200810094969.4
IPC分类号：A61B6/03;G01T1/161;G01T1/24;H01L31/00
申请日期：
2008-04-30
申请人：
GE医疗系统环球技术有限公司

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著录项信息

专利名称	X-射线检测器和X-射线CT设备
申请号	CN200810094969.4	申请日期	2008-04-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-11-04	公开/公告号	CN101569530
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/03 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02） A61B6/02 依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的 A61B6/03 用电子计算机处理的层析X射线摄影机（回波层析X射线摄影法入A61B8/14）〔4〕	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;3;;;G;0;1;T;1;/;1;6;1;;;G;0;1;T;1;/;2;4;;;H;0;1;L;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	GE医疗系统环球技术有限公司	申请人地址	美国威斯康星州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	GE医疗系统环球技术有限公司	当前权利人	GE医疗系统环球技术有限公司
发明人	孙云峰;董加勤;李剑颖
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	张雪梅;刘宗杰

摘要

本发明涉及X-射线检测器和X-射线CT设备。将实现一种仅用一层半导体就可适于低通量率到高通量率的X-射线检测器，以及一种具有这种X-射线检测器的X-射线CT设备。X-射线检测器使用将X-射线的光子直接转换成电信号的半导体，其装配有具有检测单元阵列的单层半导体衬底，该检测单元将X-射线的光子直接转换成电信号；第一数据收集装置，其以光子计数模式收集关于检测单元的数据；以及第二数据收集装置，其以电流测量模式收集关于检测单元的数据。该第一数据收集装置和第二数据收集装置收集关于不同检测单元的数据。

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