一种数控装置技术指标的检测分析装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910273170.6
IPC分类号：B23Q17/00
申请日期：
2009-12-10
申请人：
华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种数控装置技术指标的检测分析装置
申请号	CN200910273170.6	申请日期	2009-12-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-06-30	公开/公告号	CN101758422A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B23Q17/00 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B2 成型 B23 机床；其他类目中不包括的金属加工 B23Q 机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置（在车床或镗床上使用的各类刀具入B23B 27/00）；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合 B23Q17/00 机床上的指示或测量装置（用于刀具或工件的进给运动，切削速度或位置的自控制或调节入B23Q 15/00）〔3，4〕	IPC分类号	B;2;3;Q;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学,武汉华中数控股份有限公司	当前权利人	华中科技大学,武汉华中数控股份有限公司
发明人	周会成;任清荣;唐小琦;奚长浩;陈吉红;向华;周向东;王平江;叶伯生;邹捷
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	方放

摘要

一种数控装置技术指标的检测分析装置，属于数控装置的测试装置，解决现有数控装置技术指标检测装置对于各类数控装置不通用，以及检测分析的技术指标不全面的问题。本发明包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库；数据处理模块对数据接口接收的指令数据进行运算，检测结果输出到分析评价模块和显示模块；参数设置模块设置模拟反馈模块的参数，测试代码库提供各项待测项目标准测试用G代码。本发明利用模拟反馈模块模拟实际伺服驱动、电机和机床特性，计算出相应的反馈数据，排除了实际机电系统不确定性和机床加工性能不一致的影响，能够准确、客观的分析评价数控装置的各项重要技术指标。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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