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在金属基底上制备具有相变特性纳米二氧化钒薄膜的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110080653.1
  • IPC分类号:C23C14/08;C23C14/35;C23C14/58
  • 申请日期:
    2011-03-31
  • 申请人:
    天津大学
著录项信息
专利名称在金属基底上制备具有相变特性纳米二氧化钒薄膜的方法
申请号CN201110080653.1申请日期2011-03-31
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2011-09-14公开/公告号CN102181827A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/08IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;0;8;;;C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;5;8查看分类表>
申请人天津大学申请人地址
天津市南开区卫津路92号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津大学当前权利人天津大学
发明人梁继然;胡明;后顺保
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所代理人曹玉平
摘要
本发明公开了一种在金属基底表面制备具有相变特性二氧化钒纳米薄膜的方法,步骤为:(1)对硅基片表面清洗,(2)采用等离子体增强化学气相沉积方法在硅基片上生长二氧化硅薄膜,(3)采用磁控溅射方法,在二氧化硅/硅基片上沉积金属薄膜,(4)采用射频磁控溅射方法在金属表面制备氧化钒薄膜,(5)将制得的氧化钒/金属/二氧化硅/硅多层薄膜结构置于管式退火炉中于400-500℃热处理,得到具有相变特性的二氧化钒薄膜。本发明的方法可与MEMS工艺兼容,可控性能高,薄膜性能稳定,金属态与半导体态区别明显,相变过程连续可逆,可用于对其他微结构进行调控。本发明极大地拓展了二氧化钒薄膜在电子学、光学方面的应用范围。

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