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基于频谱的增量式缺陷定位方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610184439.3
  • IPC分类号:G06F11/36
  • 申请日期:
    2016-03-28
  • 申请人:
    南京邮电大学
著录项信息
专利名称基于频谱的增量式缺陷定位方法
申请号CN201610184439.3申请日期2016-03-28
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-09-28公开/公告号CN105975388A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人南京邮电大学申请人地址
江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京邮电大学当前权利人南京邮电大学
发明人王子元;张晓红;张卫丰;周国强;张迎周
代理机构南京知识律师事务所代理人汪旭东
摘要
本发明公开了基于频谱的增量式缺陷定位方法,该方法采用增量式逐步迭代的方法,利用程序信息和测试信息找出程序缺陷语句或者预测缺陷语句可能存在的范围。该方法首先通过运行测试用例,收集测试用例在程序中执行的覆盖信息即频谱信息以及运行结果信息生成覆盖信息表;再对覆盖信息表进行统计分析,计算程序语句可疑度,根据可疑度对程序语句进行排序获得缺陷定位序列;根据定位序列中语句排列逐个进行排错,直到找到引发程序异常的语句。本发明从多角度采取优化策略提高软件缺陷定位的效率,提高了测试用例的覆盖率,很好地减少了收集频谱的开销,提高了可疑度算法的精确性。

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