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使用单个晶体管对本地振荡器(LO)泄漏和镜像抑制进行检测的方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201580045356.X
  • IPC分类号:H03D3/00;H03D7/16
  • 申请日期:
    2015-08-25
  • 申请人:
    张量通讯公司
著录项信息
专利名称使用单个晶体管对本地振荡器(LO)泄漏和镜像抑制进行检测的方法及装置
申请号CN201580045356.X申请日期2015-08-25
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2017-04-19公开/公告号CN106575944A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03D3/00IPC分类号H;0;3;D;3;/;0;0;;;H;0;3;D;7;/;1;6查看分类表>
申请人张量通讯公司申请人地址
美国亚利桑那州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人张量通讯公司当前权利人张量通讯公司
发明人孔檬·塔姆;马槐楠;赞·徐;里基·立·凯·张
代理机构北京派特恩知识产权代理有限公司代理人张颖玲;王美石
摘要
本地振荡器(LO)泄漏和镜像是典型发射机中常见且不期望的效应。通常,使用相当复杂的硬件和算法来校准和减少这些损害。用基本上不引入直流电流并占据非常小的面积的单个晶体管来检测LO泄漏和镜像信号。操作为平方律器件的单个晶体管用于将功率放大器的输入端口处的信号与输出端口处的信号混合。由单个晶体管生成的混合信号使得能够对LO泄漏和镜像抑制进行同时校准。

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