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高精度角度测量的光学图形方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010261163.7
  • IPC分类号:G01B11/26
  • 申请日期:
    2010-08-24
  • 申请人:
    西安昂科光电有限公司
著录项信息
专利名称高精度角度测量的光学图形方法
申请号CN201010261163.7申请日期2010-08-24
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2011-01-05公开/公告号CN101936719A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/26IPC分类号G01B11/26查看分类表>
申请人西安昂科光电有限公司申请人地址
陕西省西安市高新区锦业路69号创业研发园C区1号瞪羚谷B栋1*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安昂科光电有限公司当前权利人西安昂科光电有限公司
发明人黄育争;高文
代理机构西安西交通盛知识产权代理有限责任公司代理人黄瑞华
摘要
本发明公开了一种高精度角度测量的光学图形方法:首先,在待测光学目标前方依次设置光学成像系统、图像探测器及图像处理系统,其中光学目标通过光学成像系统和图像探测器的成像面共轭;其次,将光学目标经过成像系统后利用图像探测器进行图像采集,采集到的图像利用图像处理系统进行处理和分析。本发明的优点是,通过选择采用合适的部件以及相应软件算法达到所需求的超高精度、实时高速和高分辨力的性能。可以采用亚微米阵列图像探测器、先进深亚像元算法达到足够高的测量精度。并且本发明结构原理简单、适用范围广、容易操作、辨识成像方向快速准确,可以实现整周角度测量等。

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