进样装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021935217.9
IPC分类号：G01N27/62
申请日期：
2020-09-03
申请人：
合肥晶合集成电路股份有限公司

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著录项信息

专利名称	进样装置
申请号	CN202021935217.9	申请日期	2020-09-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/62 通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;2查看分类表>
申请人	合肥晶合集成电路股份有限公司	申请人地址	安徽省合肥市新站区合肥综合保税区内西淝河路88号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥晶合集成电路股份有限公司	当前权利人	合肥晶合集成电路股份有限公司
发明人	刘波;张雷
代理机构	上海思微知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	曹廷廷

摘要

本实用新型提供了一种进样装置，将第二进样部件与第二存储腔室密合，利用第一驱动器及第二进样部件移动，第二进样部件通过移动可从第一存储腔室中将样品自动转移至第二存储腔室中，避免了人工操作导致空气入侵第二存储腔室的风险，提高了第二存储腔室的气密性，降低了第二存储腔室漏气时破坏与之相连的设备中的昂贵零件的风险，进而提高了检测设备精度及寿命。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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