一种基于干涉原理的无芯片RFID测距方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810385050.4
IPC分类号：G01B7/02
申请日期：
2018-04-26
申请人：
华南理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于干涉原理的无芯片RFID测距方法
申请号	CN201810385050.4	申请日期	2018-04-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-08-21	公开/公告号	CN108426518A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 7/004，G01B 7/12优先）〔6〕	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;0;2查看分类表>
申请人	华南理工大学	申请人地址	广东省广州市天河区五山路381号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南理工大学	当前权利人	华南理工大学
发明人	常天海;张暖峰;刘雄英;覃运炯
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	王东东

摘要

本发明公开了一种基于干涉原理的无芯片RFID测距方法，包括，设置参考平面、待测目标、阅读器及阅读器天线，阅读天线接收参考平面和无芯片RFID标签的后向散射信号，获得时域信号，判断两者信号达到的先后，将超出阅读范围的信号置零，然后对信号进行快速傅里叶变换获得信号的频谱图，依据干涉的理论可以求得参考平面与无芯片RFID标签到天线的距离的差值，从而获得标签到天线的距离。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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