提升电阻率成像获取图片质量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201911372717.8
IPC分类号：A61B5/053;G06T3/00
申请日期：
2019-12-27
申请人：
上海交通大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	提升电阻率成像获取图片质量的方法
申请号	CN201911372717.8	申请日期	2019-12-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-04-21	公开/公告号	CN111035387A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B5/053 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B5/00 用于诊断目的的测量（放射诊断入A61B6/00；超声波、声波或次声波诊断入A61B8/00）；人的辨识 A61B5/05 用电流或磁场的诊断测量（A61B 5/02，A61B 5/04，A61B 5/11优先）〔5〕 A61B5/053 测量身体某个部位的电阻抗或导电率〔7〕	IPC分类号	A;6;1;B;5;/;0;5;3;;;G;0;6;T;3;/;0;0查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市徐汇区华山路1954号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	赵春宇;黄一伟
代理机构	南京灿烂知识产权代理有限公司	代理人	赵丽

摘要

本发明公开了一种提升电阻率成像获取图片质量的方法，包括以下步骤：对仿真设定生成数据进行电阻率成像算法计算；将仿真设定生成数据和经过电阻率成像算法计算生成的算法生成数据作为输入特征进行风格迁移训练获得算法生成数据与仿真设定生成数据的映射函数；将实际情况下采用电阻率成像算法生成的图像带入风格迁移训练获得的映射函数中进行处理获得新图像。本发明的有益之处在于可以在不增加数据获取需求的情况下有效地提高生成图像质量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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