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半导体封装方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910266350.1
  • IPC分类号:H01L21/50;H01L21/56
  • 申请日期:
    2009-12-24
  • 申请人:
    环旭电子股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体封装方法
申请号CN200910266350.1申请日期2009-12-24
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2011-06-29公开/公告号CN102110620A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/50IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;5;0;;;H;0;1;L;2;1;/;5;6查看分类表>
申请人环旭电子股份有限公司申请人地址
上海市张江高科技园区集成电路产业区张东路1558号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人环旭电子股份有限公司当前权利人环旭电子股份有限公司
发明人许聪贤;钟匡能
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人梁挥
摘要
一种半导体封装方法,包括以下步骤:准备一基板,该基板区分为多个封装区域,各封装区域以电性连接的方式设有多个电子元件;准备一印刷电路裸板,该印刷电路裸板具有一贯穿该印刷电路裸板上下表面的容置孔;将该印刷电路裸板黏贴于该基板上,使该印刷电路裸板围设在所述封装区域外,且使所述电子元件容置于该容置孔内;以及将一胶体灌入到该印刷电路裸板的容置孔中,以包覆所述电子元件;由此,可使半导体的制造在设计上较具弹性且可以小批量生产。

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