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基于张量半监督标度切维数约减的高光谱图像分类方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510224055.5
  • IPC分类号:G06K9/66
  • 申请日期:
    2015-05-05
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称基于张量半监督标度切维数约减的高光谱图像分类方法
申请号CN201510224055.5申请日期2015-05-05
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-07-15公开/公告号CN104778482A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K9/66IPC分类号G;0;6;K;9;/;6;6查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市太白南路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人张向荣;焦李成;莫玉;冯婕;侯彪;马文萍;白静;李阳阳;郭智
代理机构陕西电子工业专利中心代理人王品华;黎汉华
摘要
本发明公开一种基于张量半监督标度切维数约减的高光谱图像分类方法,主要解决高光谱图像维数过高导致计算量大以及现有方法丢失空间信息的问题。其实现步骤是:将高光谱数据集表示成具有全波段的子数据立方体集合;从子数据立方体集合中选出有标记训练集、测试集和总训练集;构造有标记训练集的类间、类内不相似性矩阵和总训练集的样本相似性矩阵;由以上三个矩阵构造张量半监督标度切目标函数;对目标函数求解出投影矩阵;将有标记训练集和测试集投影到低维空间得到新的有标记训练集和测试集;将新的有标记训练集和测试集输入支撑矢量机进行分类,得到测试集的类别信息。本发明能获得较高的分类正确率,可用于地图制图,植被调查。

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