半导体集成电路的定时劣化模拟装置和模拟方法

发明专利无效专利

申请号：
CN97117527.6
IPC分类号：--
申请日期：
1997-08-28
申请人：
松下电子工业株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	半导体集成电路的定时劣化模拟装置和模拟方法
申请号	CN97117527.6	申请日期	1997-08-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1998-03-11	公开/公告号	CN1175792
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	松下电子工业株式会社	申请人地址	日本大阪变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下电器产业株式会社	当前权利人	松下电器产业株式会社
发明人	米泽浩和
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	王以平

摘要

为避免对可靠性的过度要求，在设计阶段预测LSI随时间的劣化并模拟劣化后动作的装置和方法。可靠性库生成装置驱动电路可靠性模拟器生成可靠性库。单元延时劣化估算装置，参照可靠性库估算各单元延迟随时间而劣化的程度。定时劣化估算装置根据延迟劣化程度估算劣化后各单元的延迟，并生成劣化后定时。逻辑模拟器以劣化后定时为基础，模拟劣化后动作。因此，可切合实际的动作以良好的精度表现各信号通路的定时劣化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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