双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪及实现方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310481926.2
IPC分类号：G01J3/46;G01J3/10
申请日期：
2013-10-12
申请人：
杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院

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著录项信息

专利名称	双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪及实现方法
申请号	CN201310481926.2	申请日期	2013-10-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-02-05	公开/公告号	CN103557942A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/46 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/46 颜色的测量；颜色测量装置，例如色度计（测量色温入G01J 5/60）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;6;;;G;0;1;J;3;/;1;0查看分类表>
申请人	杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园学源街258号科技楼709 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州彩谱科技有限公司,中国计量大学	当前权利人	杭州彩谱科技有限公司,中国计量大学
发明人	袁琨;陈刚;王坚
代理机构	深圳市君胜知识产权代理事务所	代理人	刘文求

摘要

本发明公开一种双光源兼容SCI/SCE测试条件的测色仪及实现方法，通过双光源主动照明的方式实现了SCI/SCE测量测量条件切换，替代了光阱的设计，并对两种测试条件设计了相应的定标算法。实验结果表明，该结构在SCI和SCE条件下的测试结果明显优于现有的技术，更适用于兼容SCI和SCE测试条件的颜色测量仪器，并具有显著的应用价值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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