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一种氮化镓基发光二极管外延片及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711479868.4
  • IPC分类号:H01L33/32;H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00
  • 申请日期:
    2017-12-29
  • 申请人:
    华灿光电(苏州)有限公司
著录项信息
专利名称一种氮化镓基发光二极管外延片及其制造方法
申请号CN201711479868.4申请日期2017-12-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-07-31公开/公告号CN108346725A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L33/32IPC分类号H;0;1;L;3;3;/;3;2;;;H;0;1;L;3;3;/;1;4;;;H;0;1;L;3;3;/;0;6;;;H;0;1;L;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人华灿光电(苏州)有限公司申请人地址
江苏省苏州市张家港市经济开发区晨丰公路 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华灿光电(苏州)有限公司当前权利人华灿光电(苏州)有限公司
发明人丁涛;韦春余;周飚;胡加辉;李鹏
代理机构北京三高永信知识产权代理有限责任公司代理人徐立
摘要
本发明公开了一种氮化镓基发光二极管外延片及其制造方法,属于半导体技术领域。氮化镓基发光二极管外延片还包括设置在AlN缓冲层和未掺杂的GaN层之间的插入层,插入层的生长温度为300~600℃;插入层为AlGaN/GaN结构,或者N个周期的AlGaN/GaN超晶格结构,2≤N≤20且N为整数。AlGaN子层的生长温度较低,所形成的晶粒越小且越密集,这些晶粒会拉伸形变使得间隙闭合,降低表面能,产生张应力,促使外延片向变凹的方向发展,从而改善外延片的翘曲。由于低温生长的AlGaN子层晶体质量不佳,故引入GaN子层可以湮灭大量的位错,提高外延片底层的晶体质量。

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