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基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710019005.9
  • IPC分类号:H04L1/06;H04B7/04
  • 申请日期:
    2007-11-06
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法
申请号CN200710019005.9申请日期2007-11-06
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2008-04-09公开/公告号CN101159517
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L1/06IPC分类号H;0;4;L;1;/;0;6;;;H;0;4;B;7;/;0;4查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市太白路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人焦李成;公茂果;侯彪;王爽;刘芳;刘帆;朱明明
代理机构陕西电子工业专利中心代理人韦全生
摘要
本发明公开了一种基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法,它涉及人工智能技术领域,其目的是为了克服现有方法存在较高的计算复杂度和误码率的不足,采用本发明方法可以得到较好的误码率性能并降低实现的复杂度。该方法的实现步骤为:1、初始化粒子群,粒子群大小为m,随机产生各粒子的位置矢量,位置矢量的维数与发射天线数相同。设置变异概率为pm,进化代数t=0;设定算法终止条件是:最大迭代代数为ga;2、计算粒子的适应度,并判断是否满足迭代终止条件,若满足终止条件则算法结束,不满足终止条件则转到步骤3;3、更新粒子位置、执行变异操作、更新个体极值和全局极值、转到步骤2。本发明可用来解决无线通信领域中垂直分层空时系统的检测问题。

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