平面波天线零桥断层成像测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN89201807.0
IPC分类号：--
申请日期：
1989-02-21
申请人：
北京理工大学

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	平面波天线零桥断层成像测试装置
申请号	CN89201807.0	申请日期	1989-02-21
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区白石桥路7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	赵川东
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

平面波天线零桥断层成像测试装置，属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本实用新型的微波部分设计采用E面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源，同抛物面反射体组合成一体，简便地构成平面波照射源，同时由微波零桥环路抵消强入射波信号，因而可以精确地检测出目标的微散射场，并直接计算和完成图像处理。由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射波照射，大大提高了系统的分辨力，可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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