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电离层闪烁及电离层电子总含量监测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110011099.1
  • IPC分类号:G01T1/29;H04B17/00;G01T1/20
  • 申请日期:
    2011-05-10
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第二十二研究所
著录项信息
专利名称电离层闪烁及电离层电子总含量监测装置
申请号CN201110011099.1申请日期2011-05-10
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01T1/29IPC分类号G;0;1;T;1;/;2;9;;;H;0;4;B;1;7;/;0;0;;;G;0;1;T;1;/;2;0查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第二十二研究所申请人地址
山东青岛城阳仙山东路36号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第二十二研究所当前权利人中国电子科技集团公司第二十二研究所
发明人余侯芳;邓忠新;王登亮;冯健;李广;刘钝;马宝田;甄卫民;袁亚平
代理机构工业和信息化部电子专利中心代理人梁军
摘要
本发明公开了一种电离层闪烁及电离层电子总含量监测装置。该装置包括:多频段卫星信号接收天线,用于接收穿过电离层到达地面的卫星信号;多频段电离层闪烁及电离层电子总含量一体化监测接收机,用于获取卫星信号,对卫星信号进行高速采样,分离并提取卫星信号在穿过电离层不均匀体时所受的影响信息,根据影响信息同时实时计算多个频段电离层闪烁指数和/或电离层电子总含量并输出。借助于本发明的技术方案,能够在同一设备上同时对多个频段电离层闪烁和TEC这两种重要参数进行实时监测,为我国各种空间信息系统(特别是军用系统)同时提供多个频段闪烁预报预警服务。

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