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基于内同轴的对焦装置及基于内同轴的对焦方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811622946.6
  • IPC分类号:B23K26/046;B23K26/04
  • 申请日期:
    2018-12-28
  • 申请人:
    武汉华工激光工程有限责任公司
著录项信息
专利名称基于内同轴的对焦装置及基于内同轴的对焦方法
申请号CN201811622946.6申请日期2018-12-28
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-03-29公开/公告号CN109530912A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B23K26/046IPC分类号B;2;3;K;2;6;/;0;4;6;;;B;2;3;K;2;6;/;0;4查看分类表>
申请人武汉华工激光工程有限责任公司申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉华工激光工程有限责任公司当前权利人武汉华工激光工程有限责任公司
发明人王雪辉;王建刚;雷桂明;许维;喻浩
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本发明提供了一种基于内同轴的对焦装置及基于内同轴的对焦方法,属于激光加工技术领域。该装置包括光源、振镜聚焦系统、分光镜、激光器、摄像镜头和传感器。光源用于向工件输出光束,光束照射到工件表面后形成光束状态,光束状态的影像信息经过振镜聚焦系统传递到分光镜,影像信息透过分光镜再依次传递到摄像镜头和传感器。摄像镜头用于将影像信息传输至传感器中,传感器接收影像信息并经过软件处理和分析得到光束的质心位置。激光器用于输出激光,激光经过分光镜反射至振镜聚焦系统,激光通过振镜聚焦系统并聚焦到工件。该对焦装置能够消除对焦效率低及一致性差的问题,提高激光加工的效率。一种基于内同轴的对焦方法,使用上述提到的装置。

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