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样品室温度可控的分光光度计

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510061473.3
  • IPC分类号:G01N21/17;G01N21/31;G01N21/01;G01N21/55;G01N21/59
  • 申请日期:
    2005-11-08
  • 申请人:
    杭州科汀光学技术有限公司
著录项信息
专利名称样品室温度可控的分光光度计
申请号CN200510061473.3申请日期2005-11-08
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-06-14公开/公告号CN1786684
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/17IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;1;7;;;G;0;1;N;2;1;/;3;1;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1;;;G;0;1;N;2;1;/;5;5;;;G;0;1;N;2;1;/;5;9查看分类表>
申请人杭州科汀光学技术有限公司申请人地址
浙江省杭州市西湖区天目山路398号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州科汀光学技术有限公司当前权利人杭州科汀光学技术有限公司
发明人顾培夫;唐晋发;李海峄;黄文标;艾曼灵;沈新浪;王田德;薛晖;金波
代理机构杭州求是专利事务所有限公司代理人张法高
摘要
本发明公开了一种样品室温度可控的分光光度计。从灯源发出的宽光谱光束,经双调制盘、单色仪、滤光片、偏振器变成单光波长偏振光束,经加热装置变成探测光射入光电探测器;加热装置定位在可旋转的样品台上,样品台通过转轴与探测器转臂相连,光电探测器在探测器转臂的另一侧,探测器转臂通过步进电机驱动,光度计由控制器控制;本发明解决了一般的分光光度计无法测量某一恒定温度下光学样品透、反射特性或透、反射特性随温度变化的难题。该装置适用于对使用温度要求较高的光学元件如光学薄膜等的透、反射率测量。

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